主办方
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会议介绍
集成电路产业作为电子信息产业的基础和核心，是国民经济和国防的重要支柱与战略性产业。无线通信、人工智能、汽车电子、新型传感器、新型显示驱动着集成电路的设计水平不断提升，同时对集成电路测试带来更大的挑战。近年来，可测性设计、大规模SOC设计以及2.5D、3D封装等技术的飞速发展，对测试开发技术以及ATE技术水平都提出了更高的要求，国外研究机构和以美国泰瑞达、日本爱德万等为代表的厂家在测试技术研究、人才培养和测试设备研制等方面都取得了较大的进展。
我国集成电路测试技术发展相比国外起步较晚，并且面临国外高端技术垄断的严峻挑战。国内集成电路测试技术的发展以及测试设备严重依赖国外公司，测试人才的培养也处于起步阶段，自主编写的教材和专业课程建设严重滞后，不能适应国内产业发展的需求。为加强集成电路测试技术的研究，培育国内集成电路测试产业，中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会和中国电子学会电子测量与仪器分会联合主办第一届集成电路测试技术研讨会，会议针对集成电路测试产业发展、相关技术研究和人才培养等展开研讨和交流，旨在促进国内集成电路测试行业技术进步，此次研讨会将于9月24日～26日在深圳举办。本届论坛将融合专题报告、技术交流、成果展示为一体，关注实际应用中的关键技术和解决方案。
会议主题
集成电路测试技术
会议议题
1. 集成电路测试
2. 测试设备设计
3. 可测试性设计
4. ADC/DAC测试
5. 存储器测试
6. SOC测试
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